Od Wydawcy 7
Przedmowa 9
1. Natura promieniowania rentgenowskiego 11
2. Źródła promieniowania rentgenowskiego 11
2.1. Lampy rentgenowskie 11
2.2. Izotopy promieniotwórcze 15
2.3. Akceleratory elektronów 15
3. Widma promieniowania rentgenowskiego 17
3.1. Widmo ciągłe promieniowania hamowania 17
3.2. Widmo liniowe promieniowania charakterystycznego 20
4. Wielkości stosowane do opisu promieniowania rentgenowskiego 33
5. Ciągły charakter widma promieniowania hamowania 38
6. Krótkofalowa granica widma ciągłego promieniowania hamowania 39
7. Natężenie promieniowania hamowaniai charakterystyka jego widma 41
8. Natężenie promieniowania hamowania generowanego w lampie rentgenowskiej zasilanej napięciem stałym lub zmiennym 48
9. Rozkład przestrzenny natężenia promieniowania hamowania 51
10. Porównanie rezultatów obliczeń natężenia
promieniowania hamowania z doświadczeniem 60
11. Prawo odwrotnych kwadratów 65
12. Sprawność wzbudzenia promieniowania rentgenowskiego 65
13. Wybrane wielkości promieniowania jonizującego 66
14. Osłabienie promieniowania rentgenowskiego podczas przechodzenia przez materię 68
14.1. Efekty powodujące osłabienie promieniowania rentgenowskiego 68
14.2. Osłabienie wąskiej wiązki promieniowania monoenergetycznego 71
14.3. Osłabienie wąskiej wiązki promieniowania polienergetycznego 79
14.4. Osłabienie szerokiej wiązki promieniowania polienergetycznego 81
15. Pomiar współczynnika osłabienia promieniowania 83
16. Promieniowanie rozproszone w radiografii przemysłowej 88
16.1. Wprowadzenie 88
16.2. Sposób pomiaru współczynnika B 93
16.3. Geometria układów do pomiaru współczynnika B 98
16.4. Przykład pomiaru współczynnika B 99
17. Wykorzystanie osłabienia promieniowania w radiografii przemysłowej 102
17.1. Podstawy wykrywania wad metodami radiografii 102
17.2. Kontrast radiogramu 104
17.2.1. Wąska wiązka promieniowania monoenergetycznego 104
17.2.2. Szeroka wiązka promieniowania polienergetycznego 106
17.3. Geometryczne warunki badania 112
17.4. Geometryczne warunki badania przy zastosowaniu źródeł promieniowania o różnej wielkości 113
17.4.1. Punktowe źródło promieniowania 113
17.4.2. Niepunktowe źródło promieniowania 115
17.5. Optymalne warunki geometryczne 118
17.6. Wyznaczenie położenia i wielkości wady 121
17.7. Podstawy wykonania wykresów ekspozycji dla metody rentgenograficznej 124
18. Wykrywalność wad i czynniki na nią wpływające 132
18.1. Określenie wykrywalności wad 132
18.2. Czynniki wpływające na wykrywalność wad 133
18.2.1. Energia promieniowania 133
18.2.2. Właściwości filmów i okładek wzmacniających 138
18.2.3. Kształt i położenie wady w badanym wyrobie 140
18.3. Wskaźniki jakości obrazu 150
Autor: Senczyk Dominik